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薄金镀层测厚仪

产品简介

镀层厚度分析仪,iEDX-150T(S)薄金镀层测厚仪主要针对超薄镀层(例如金、钴、铯,镧等)进行分析的测厚仪器,其测试范围大,更可选配电镀液离子浓度分析功能。

产品型号:iEDX-150T(S)
更新时间:2024-06-13
厂商性质:生产厂家
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品牌SENSEXRF/善时价格区间面议
产地类别进口应用领域综合
测试下限0.0125um探测器大计数率SDD
平台操作三维自动平台

一、iEDX-150T(S)薄金镀层测厚仪主要参数:

1、多镀层分析,可分析镀层1~5层(不含基材);

2、测试示值:0.001 μm,最薄可测厚度为0.0125μm;

3、元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

4、测量时间:10~30秒可选;

5、SDD探测器,能量分辨率为125eV;

6、探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

7、微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);

8、标配6个准直器及多个滤光片,且自动切换;

9、XYZ三维全自动移动平台,荷载最*大为5公斤;

10、高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置;

11、多变量非线性去卷积曲线拟合;

12、高性能FP/MLSQ分析;

13、仪器尺寸:618×525×490mm;

14、样品台尺寸:230×220mm;

15、样品台移动范围:前后左右各80mm、高度90mm;

16、样品仓尺寸:395×400×102mm。

 

二、图谱界面:

1、软件支持无标样分析;

2、宽大分析平台和样品腔;

3、集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;

4、采用多种光谱拟合分析处理技术;

5、镀层测厚分析精度可达到0.001μm。

 

三、分析报告结果:

1、直接打印分析报告;
2、报告可转换为PDF,EXCEL格式。

 

四、iEDX-150T(S)薄金镀层测厚仪样品分析图谱:

 

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